Sirvi Autor "Hoxha, Roland" järgi
Nüüd näidatakse 1 - 1 1
- Tulemused lehekülje kohta
- Sorteerimisvalikud
Kirje Spectroskopic ellipsometry as a versatile tool to study thin films grown by atomic layer deposition(Tartu Ülikool, 2014) Hoxha, Roland; Kukli, Kaupo; Tamm, Aile