HfO2 kilede aatomkihtkasvu uurimine
dc.contributor | Tartu Ülikool. Füüsika-keemiateaduskond | et |
dc.contributor | Tartu Ülikool. Materjaliteaduse instituut | et |
dc.contributor.advisor | Sammelselg, Väino, juhendaja | et |
dc.contributor.advisor | Aarik, Jaan, juhendaja | et |
dc.contributor.author | Rammula, Raul | et |
dc.date.accessioned | 2007-01-09T06:50:22Z | |
dc.date.available | 2007-01-09T06:50:22Z | |
dc.date.issued | 2005 | et |
dc.identifier.other | Tartu Ester bibnumber: b17346885 | et |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10062/1211 | |
dc.language.iso | est | et |
dc.subject | chemistry | |
dc.subject | thin films | |
dc.subject.other | hafniumühendid | et |
dc.subject.other | õhukesed kiled | et |
dc.subject.other | aatomkihtepitaksia | et |
dc.subject.other | magistritööd | et |
dc.title | HfO2 kilede aatomkihtkasvu uurimine | et |
dc.title.alternative | Atomic layer deposition study of HfO2 thin films | et |
dc.type | Thesis | et |